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電子產(chǎn)品性能測(cè)試 | |
| 電池芯片PTC測(cè)試，測(cè)試芯片在不同溫度狀態(tài)下的電性能(微電阻、電流、電壓等）已經(jīng)芯片的厚度（微米）
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| 下一設(shè)備：電阻、芯片測(cè)試包裝設(shè)備 上一設(shè)備：汽車發(fā)動(dòng)機(jī)零件性能測(cè)試 |
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